新型植物病害快速檢測(cè)儀型號(hào)：TC-ARN-BHY 
功能： 
.可在一分鐘內(nèi)快速檢測(cè)病毒病、真菌病、細(xì)菌病、真菌病毒復(fù)合病、真菌細(xì)菌復(fù)合病、病毒細(xì)菌復(fù)合病、真菌細(xì)菌病毒復(fù)合病、殘留量、微量元素缺素癥、光合作用率、葉片長(zhǎng)勢(shì)等。 
簡(jiǎn)述： 
     .細(xì)菌、真菌和病毒是引起農(nóng)作物病害的主要原因。這些病害微生物一般通過(guò)莖、葉、根系，果實(shí)等侵染植物，大部分病害在染病初期雖然較易防治，但一般不易被人察覺(jué)，病害一旦發(fā)生，防治不僅困難而且效果較差，致使農(nóng)作物減產(chǎn)，甚至收。如何在病害發(fā)病初期檢測(cè)和及時(shí)防治，對(duì)防治病害的發(fā)生尤為重要。 
植物病害的檢測(cè)是一種復(fù)雜的化學(xué)和物理過(guò)程，從實(shí)驗(yàn)室走入實(shí)際應(yīng)用一直是人們追求的目標(biāo)，該儀器能夠快速分析確定各種農(nóng)作物病害的種類(lèi)。為如何防治病害及用藥提供了科學(xué)理論依據(jù)，為農(nóng)場(chǎng)主和農(nóng)戶(hù)帶來(lái)了大的便利。 
新型植物病害快速檢測(cè)儀
     . 根據(jù)生物物理學(xué)方法，一般健康植物的膜位在-50mv左右，外液挎膜電阻均在105Ω/cm左右，膜電容基本保持在1uf。作物一旦染病，必然導(dǎo)致分子振動(dòng)光譜的變化和膜電位的升高，不同病菌的接種必然發(fā)生變化，根據(jù)這一原理，通過(guò)電導(dǎo)和光衍射的方法就能夠分辨出病害的種類(lèi)及類(lèi)型，這項(xiàng)技術(shù)在范圍內(nèi)是的。 

.測(cè)定原理：高亮度冷光源反射測(cè)定原理。 
.測(cè)試速度：?jiǎn)雾?xiàng)測(cè)試60份/小時(shí)，連續(xù)測(cè)試120份/小時(shí)。 
.記錄方式：熱敏打印機(jī)打印。 
.顯示方式：240*60點(diǎn)陣式LCD顯示。 
.記錄紙：熱敏打印紙，57mm。 
.工作環(huán)境：工作溫度：0°-40℃   相對(duì)濕度：RH≤85%; 
.遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾源，避免強(qiáng)光直接照射。 
.功率：≤30W 
.凈重：≤3kg 
注意事項(xiàng)： 
.避免在強(qiáng)光直射的地方測(cè)試。 
.注意用電安全，空氣濕度越過(guò)85%時(shí)應(yīng)停止使用。 
.儀器應(yīng)在通風(fēng)、干燥、避光的位置存放，并用干布罩蓋。 
.測(cè)試槽和打印頭應(yīng)保持清潔。 
儀器配套： 
.主機(jī)一臺(tái)（內(nèi)置熱敏打印機(jī)）、試紙一盒、藥劑一套（五瓶）、鋁合金手提箱一只。

產(chǎn)品名稱(chēng)：自控恒溫尿碘消解儀 石墨消解儀  產(chǎn)品型號(hào)：U60

自控恒溫尿碘消解儀 石墨消解儀 型號(hào)：U60

自控恒溫尿碘消解儀,采用創(chuàng)新技術(shù)，具有升溫快速、程序控制、消解*、高效方便等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于衛(wèi)生系統(tǒng)、疾控中心的尿碘含量檢測(cè)。  
選材新穎*，耐酸堿、耐高溫，專(zhuān)為實(shí)驗(yàn)室量身定做。本產(chǎn)品采用智能控溫?cái)?shù)顯，環(huán)繞式加熱。節(jié)能快速，溫度均勻，溫度、時(shí)間等參數(shù)可以自由設(shè)定。省時(shí)省力大大提高了檢測(cè)效率。 
性能特點(diǎn)： 
◇ 等靜壓高純石墨,耐強(qiáng)酸強(qiáng)堿、耐高溫、易清潔 
◇ 環(huán)繞加熱：均勻性好、熱效能高 
◇ 加熱面大：處理樣品多、消解效率高 
◇ 一體式設(shè)計(jì)：外觀精美大氣，采用智能溫控儀表 
◇ 機(jī)箱保護(hù)罩采用進(jìn)口特氟龍涂覆，能防強(qiáng)酸強(qiáng)堿 
◇(選配)液晶觸摸屏式程序控溫，多段程序可供自設(shè)定梯度控溫曲線(xiàn)。顯示樣品時(shí)間反應(yīng)溫度，并可根據(jù)樣品不同進(jìn)行相應(yīng)修正。具備變功率加熱及補(bǔ)溫系統(tǒng)。歷史數(shù)據(jù)記憶，曲線(xiàn)參數(shù)可導(dǎo)出，數(shù)據(jù)可追溯(選配)。 
 自控恒溫石墨尿碘消解儀技術(shù)參數(shù) 
型    號(hào) U60 
樣品位數(shù)60個(gè) 
樣品容量25ml 
消解樣品60個(gè)*φ16*H50 
控溫范圍室溫-350℃ 
控溫精度±0.1℃ 
孔間溫差±0.1℃@100℃,6h； 
孔溫波度±0.1℃@100℃,6h； 
功    率1800 W 
重    量35Kg 
控顯方式液晶觸摸式控溫 
電    源交流220v/50HZ 
溫馨提示特殊應(yīng)用和其他規(guī)格,可訂制。

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀型號(hào)： ST2263 
概述  
     ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線(xiàn)或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。   
      ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。      
      ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！  
     
     探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。  
     測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。      
          詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入  
      ST2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。  
     儀器適用于半導(dǎo)體材料廠(chǎng)器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。  
三、基本技術(shù)參數(shù)      
3.1  測(cè)量范圍      
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)  
    直    徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    測(cè)量方位: 軸向、徑向均可  
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.4  數(shù)控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字  
3.5  四探針探頭（選配其一或加配全部）  
   (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線(xiàn)探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)  
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線(xiàn)或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)  
3.6 電源      
   輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主機(jī)  220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（高）